Исследование зонной структуры гетероструктур GeSiSn/Ge/Si методом инфракрасной фурье-спектроскопии фотоотражения
Авторы:
Аннотация:
В работе продемонстрировано применение метода фотомодуляционной ИК фурье-спектроскопии для исследования структур, содержащих слои GeSn и GeSiSn в диапазоне температур 79–180 К. Метод фотоотражения позволил наблюдать прямые межзонные переходы, оценить влияние температуры и механических напряжений в структуре.