Статьи по ключевому слову "фокусированный ионный пучок"
Управление свойствами и геометрическими характеристиками селективно сформированных нитевидных нанокристаллов GaAs в области обработки ФИП на подложке Si(111)
- Год: 2024
- Том: 17
- Выпуск: 3.1
- 7
- 698
- Страницы: 28-33
Влияние дозы и ускоряющего напряжения при обработке поверхности Si(111) фокусированным ионным пучком на рост нанопроволок GaAs
- Год: 2023
- Том: 16
- Выпуск: 3.1
- 15
- 2155
- Страницы: 79-83
Изготовление наноразмерных структур методом ионно-стимулированного осаждения материалов и изучение их электрических свойств
- Год: 2023
- Том: 16
- Выпуск: 1.2
- 7
- 2565
- Страницы: 218-223
Исследование областей кремния, модифицированного ФИП, методами АСМ и рамановской спектроскопии
- Год: 2022
- Том: 15
- Выпуск: 3.3
- 18
- 3120
- Страницы: 59-63
Влияние температуры предростового отжига на последующий рост арсенида галлия на кремнии
- Год: 2022
- Том: 15
- Выпуск: 3.3
- 21
- 3108
- Страницы: 54-58
Экспериментальное исследование образования наноуглублений с помощью локального капельного травления модифицированной поверхности GaAs (001) фокусированным ионным пучком
- Год: 2022
- Том: 15
- Выпуск: 3.3
- 14
- 3018
- Страницы: 48-53
Исследование влияния ФИП-обработки поверхности Si(111) на процессы роста нитевидных нанокристаллов GaAs
- Год: 2022
- Том: 15
- Выпуск: 3.3
- 13
- 3132
- Страницы: 36-41