Последние выпуски
Характеризация анизотропии оптических свойств черного фосфора методами ИК фурье-спектроскопии
- Год: 2023
- Том: 16
- Выпуск: 3.2
- 30
- 5349
- Страницы: 228-232
Гетероструктуры со сверхтонкими метаморфными буферными слоями InxGa1−xAs/GaAs (001) и КТ InAs/InGaAs, выращенные методом молекулярно-пучковой эпитаксии
- Год: 2026
- Том: 19
- Выпуск: 1.1
- 12
- 770
- Страницы: 39-44

