Поляризационная спектроскопия отражения алюминиевых наноантенн на поверхности излучающих гетероструктур GeSiSn/Si

В работе представлены результаты исследования оптических свойств массивов алюминиевых наноантенн прямоугольной формы, сформированных на поверхности гетероструктуры GeSiSn/Si с множественными квантовыми ямами. По спектрам ИК фурье-спектроскопии анизотропного отражения определены положения мод локализованного поверхностного плазмонного резонанса, возникающего вдоль длинной (L) и короткой (S) сторон рассматриваемых наноантенн. Экспериментально показано, что обе моды расположены в ближнем ИК-диапазоне и при увеличении латеральных размеров наноантенн смещаются в сторону меньших  энергий с увеличением интенсивности резонанса. S-мода проявляется в спектрах в виде наложения на более интенсивную L-моду и имеет интенсивность на порядок меньше. Среди исследованных образцов определена геометрия массивов наноантенн с резонансом вблизи энергии пика фотолюминесценции гетероструктур Ge_0.84Si_0.076Sn_0.084/Si Е ≈ 0.65 эВ.