Программно-аппаратный комплекс для исследования электрофизических параметров активных диэлектриков

В статье рассмотрено применение активных диэлектриков, тонкопленочные наноразмерные структурные устройства прочно вошли в полупроводниковую промышленность, сегнетоэлектрики нашли широкое применение. Из-за влияния температур на характеристики сегнетоэлектриков, важно контролировать температуру при создании сегнетоэлектрических материалов и исследовании уже существующих образцов. Предлагается создание программно-аппаратного комплекса для измерений электрических параметров активных диэлектриков и изделий на их основе, который позволит с большой точностью получать электрические параметры образцов активных диэлектриков с учетом их форм и размеров. Программно-аппаратный комплекс будет автоматизирован для снижения статистических погрешностей, а для решения проблемы исследования влияния температуры на конкретные сегнетоэлектрические образцы, предложена установка термокамеры в программно-аппаратный комплекс. Это позволит расширить возможности исследования сегнетоэлектриков при помощи данного программно-аппаратного комплекса. При снятии частотных характеристик осуществляется изменение частоты тест-сигнала, температурных – изменение температуры в термокамере, вольт-фарадных – изменение смещения на образце. В статье описана работа программно-аппаратного комплекса и устройство термокамеры. Результатом работы стал многофункциональный измерительный прибор, позволяющий повысить технико – экономическую эффективность исследования сегнетоэлектриков, благодаря чему можно получить электрические параметры сегнетоэлектриков (напряженности электрического поля, поляризации образца и электрический импеданс) с учетом влияния температуры (диапазон до 100 °С).