Методы обработки полевых эмиссионных картин свечения для получения I–V характеристик отдельных эмиссионных центров
Авторы:
Аннотация:
В работе описаны особенности обработки картин свечения полевого эмиссионного проектора при получении локальных ВАХ отдельных эмиссионных центров. Особенности построения таких зависимостей показаны на примере эксперимента с нанокомпозитным полевым эмиттером. Обсуждаются основные факторы, влияющие на анализ картин свечения: эффект засветки, эффект гало, процессы адсорбции-десорбции, вакуумные разряды, выгорание и загрязнение люминофорного экрана. Описаны алгоритмы уменьшения этих эффектов с помощью компьютерной обработки экспериментальных данных.