Последние выпуски
Крымов Владимир Михайлович
Место работы
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН
Санкт-Петербург, Российская Федерация
Исследование дефектов в профилированных кристаллах сапфира методом фазово-контрастного изображения в синхротронном излучении
- Год: 2023
- Том: 16
- Выпуск: 1.1
- 68
- 5561
- Страницы: 146-152