Последние выпуски
- 2025, Том 18 Выпуск 3 Полный текст
- 2025, Том 18 Выпуск 2 Полный текст
- 2025, Том 18 Выпуск 1.1 Полный текст
- 2025, Том 18 Выпуск 1 Полный текст
Смирнов Михаил Борисович
199034, Российская Федерация, г. Санкт-Петербург, Университетская наб., 7-9
Возможность применения спектроскопии комбинационного рассеяния света для оценки толщины интерфейсного слоя в сверхрешетках AlN/GaN
- Год: 2016
- Выпуск: 2
- 184
- 7860
- Страницы: 27-36