Последние выпуски
Смирнов Михаил Борисович
199034, Российская Федерация, г. Санкт-Петербург, Университетская наб., 7-9
Возможность применения спектроскопии комбинационного рассеяния света для оценки толщины интерфейсного слоя в сверхрешетках AlN/GaN
- Год: 2016
- Выпуск: 2
- 185
- 9198
- Страницы: 27-36