Температурное поведение квантово-каскадного лазера с селективным кольцевым резонатором, сформированным за счет травления дифракционной решетки с переменной глубиной

С помощью метода прямой ионно-лучевой литографии была реализована дифракционная решетка второго порядка, обеспечивающая распределенную обратную связь, вытравленная в верхних слоях обкладки  волновода квантово-каскадного лазера с селективным колцевым резонатором. Глубина травления штрихов дифракционной решетки изменялась в диапазоне 0,6–2,6 мкм при движении вдоль поверхности кольцевого  резонатора. Была получена многомодовая генерация на модах шепчущей галереи вблизи 7,64 мкм. Величина пороговой плотности тока составила около 1 кА/см² при температуре 77 К. Повышение температуры до 292 К приводит к появлению многомодовой генерации вблизи 7,94 мкм с величиной пороговой плотности тока ~ 4 кА/см². Также представлены результаты исследования время-разрешенных спектров лазерной  генерации.