Микроволновый метод измерения низкочастотных шумов транзисторов

Для измерения низкочастотных (НЧ) шумов СВЧ-транзисторов, работающих в условиях внешних интенсивных электромагнитных помех, предлагается использовать устойчивые к их воздействию измерители флуктуаций СВЧ-колебаний. Транзистор, находящийся на плате, возбуждают малошумящим СВЧ-генератором, амплитуда колебаний которого, модулированная НЧ-шумами транзистора, измеряется СВЧ-анализатором спектра. Методика опробована на гетеротранзисторах GaN/AlGaN, в каналах которых плотность электронов формировалась посредством спонтанной и пьезоэлектрической поляризации без какого-либо дополнительного легирования. Помимо экспериментального тестирования, представлено теоретическое обоснование предложенного метода. Получены условия, при которых нормированные спектры флуктуаций амплитуды колебания аналогичны нормированным НЧ-шумам тока транзистора.