Планшетный сканер как прибор для физических исследований

Представлен новый метод оптического неразрушающего контроля свойств различных материалов: полупроводников, диэлектриков, металлов. Метод основан на измерении геометрических и оптических неоднородностей исследуемых объектов по характеристикам рассеянного объектами излучения. В качестве физического прибора для измерения интенсивности рассеянного излучения предложено использовать планшетный сканер. Анализ возможностей метода показал, что с его помощью можно измерять шероховатость и кривизну поверхности, выявлять одиночные дефекты на поверхности объектов, измерять электрофизические параметры материалов, прозрачных в видимой области спектра. Метод прост в реализации, не уступает по точности измерениям, проводимым с помощью многих специализированных физических приборов, превосходит дорогостоящее оборудование по объему и оперативности получаемой информации, позволяет проводить контроль свойств материалов в производственных условиях.