Статьи по ключевому слову "спектроскопия оптического отражения"
Измерение толщины барьерного слоя в гетероструктурах AlGaN/GaN методом спектроскопии оптического отражения: сравнение с рентгеновской рефлектометрией
- Год: 2025
- Том: 18
- Выпуск: 3.1
- 2
- 45
- Страницы: 143-147