Последние выпуски
Быстродействующий интерферометрический измеритель толщины пленок в диапазоне от десяти до тысячи микрон
- Год: 2012
- Выпуск: 3
- 0
- 9941
- Страницы: 48-55
Переходный процесс при рассеянии импульсного электромагнитного поля на проводящей сфероидальной магнитной оболочке
- Год: 2010
- Выпуск: 4
- 0
- 9227
- Страницы: 86-89

