Измерение сопротивления образцов с разрешением по времени

Оптоэлектронные и наноэлектронные устройства
Авторы:
Васильев С.Я.Храпай В.С.Тихонов Е.С.
Аннотация:

В статье рассматривается и реализуется метод измерения резких скачков сопротивления образцов с разрешением по времени в 100 нс при температуре 4.2 К на примере транзистора ATF-55 143. Описывается принцип работы схемы, калибровка и учёт паразитной ёмкости.