Методика количественного анализа межчастичных расстояний в массивах наночастиц на твердотельных подложках

В работе представлена методика количественного анализа геометрических параметров массивов наночастиц, в частности межчастичных расстояний, с использованием алгоритма триангуляции Делоне. Актуальность такого подхода обусловлена ключевой ролью межчастичных зазоров в формировании «горячих точек» в спектроскопии гигантского комбинационного рассеяния (ГКР). В работе описан подход к автоматическому определению центров наночастиц на микроскопических изображениях и вычислению расстояний между ближайшими соседними наночастицами, включая фильтрацию данных и учет краевых эффектов для повышения статистической надежности. Методика продемонстрирована на примере самоорганизованных массивов наночастиц, сформированных при термическом отжиге тонких пленок Ag. Обсуждаются преимущества предложенного подхода и его ограничения, а также его применимость в нанометрологии и морфологическом анализе наноструктурированных поверхностей.