Статьи по ключевому слову "полярный фонон"
Возможность применения спектроскопии комбинационного рассеяния света для оценки толщины интерфейсного слоя в сверхрешетках AlN/GaN
- Год: 2016
- Выпуск: 2
- 184
- 6909
- Страницы: 27-36
Адрес страницы с ошибкой:
Текст с ошибкой:
Ваш комментарий или корректная версия: