Данное исследование продолжает цикл статей, посвященных особенностям функционирования ионно-оптических устройств с периодическим электрическим питанием и постоянным однородным магнитным полем, применяемых в масс-спектрометрии. В статье показано, как диаграмма устойчивости комбинированной ионной ловушки меняет свою структуру при отклонении конфигурации ловушки от идеальной. Определено влияние величины угла между осью симметрии электрического поля и направлением магнитной индукции, а также влияние нарушения осевой симметрии электрического поля на картину зон устойчивости. Полученные результаты целесообразно использовать как для оценки влияния дефектов изготовления либо юстировки на работу классической комбинированной ловушки, так и для проектирования новых неклассических ионных ловушек.