Статьи по ключевому слову "низкотемпературная магнитно-силовая микроскопия"
Применение методов атомно-силовой микроскопии для анализа сегнетоэлектрических и магнитных свойств манганита тербия, легированного висмутом, при низких температурах
- Год: 2013
- Выпуск: 2
- 713
- 7842
- Страницы: 137-143