Диэлектрическая спектроскопия как средство диагностики электронных состояний силленитов

Физика конденсированного состояния
Авторы:
Аннотация:

Методом диэлектрической спектроскопии определены физические параметры примесных центров кристаллов Bi[12]SiO[20].